书目

光学干涉检测

内容简介

埃里克·P.古德温和詹姆士·C.怀亚特著的《光学干涉检测》介绍了光学干涉基本原理和方法,包括干涉基础、典型干涉仪、相移干涉、干涉图处理、绝对测量、像差分解,以及典型光学零件特別是非球面的几何参数测量方法和技术等,重点介绍了干涉技术的基本精髓所在,即光程差的调制及处理方法。

作者简介

埃里克·P.古德温(EricP.Good-win),亚利桑那大学光学科学院的研究生,分别于2002和2004年获得光学工程的学士和硕士学位。他本科师从H.BradfordBarber和HarrisonH.Barrctt教授研究伽马射线探测,他也在劳伦斯一利弗莫尔国家实验室和北电网络实习过。古德温的学位论文是在JohnE.Grcivenkamp教授的指导下完成的,在那里他使用了多种干涉仪,做了大量的检测应用。詹姆士·C.怀亚特(JamesC.Wyant),1965年毕业于凯斯西储大学并获得学士学位,1967和1968年在罗彻斯特大学分别获得硕士和博士学位。其工作履历为:1968一1974年,Itek公司光学工程师;1974—1976年,亚利桑那大学光学科学中心助理教授;1976一1979年,副教授;1979至今,教授;1999年,光学科学中心主任;2005年,光学科学院院长。他是WYKO公司的发起者并任总经理,1984一1997年任董事会主席。他是4D公司的发起人,目前任公司董事会主席。他也是DMetriX公司的发起者,目前是董事会成员。怀亚特是美国光学学会(OSA)、国际光学工程学会(SPIE)和印度光学学会的理事。1986年,他成为SPIE主席并被选为董事会和执行委员会的成员。他目前是AppliedOptics主编。怀亚特已经获得多项奖励,包括1988年SPIE技术成就奖,1992年OSA的JosephFraunhofer奖,2003年的SPIE金像奖。怀亚特的研究领域包括干涉、全息和光学检测。他已经是31个博士和24个硕士的导师。

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