FPGA芯片设计与测试技术研究
- 作者
- 出版社 苏州大学出版社
- 出版时间 2022年2月 第1版
- ISBN 9787567238992
- 定价 59.00
内容简介
《FPGA芯片设计与测试技术研究》围绕基于SRAM的FPGA，针对岛状的架构，对FPGA的各个模块进行了详细的分析和设计，并设计了可扩展的FPGA配置电路及可靠全局信号网络，同时对FPGA进行了抗辐照改进设计。封测结果表明，改进的设计具有较好的抗干扰性能及较高的抗辐照特性，以上结果应用到了规模为6000门、20万门、30万门、60万门、100万门等多个FPGA设计中。
目录
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