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X射线多晶衍射数据Rietveld精修及GSAS软件入门
作者
郑振环
著
李强
著
出版社
中国建材工业出版社
出版时间
2016年6月 第1版
ISBN
9787516014561
定价
38.60
内容简介
Rietveld法全谱拟合已成为X射线多晶衍射修正晶体结构的重要方法。本书共分为四章,侧重从操作示例介绍Rietveld法的基本原理和精修过程。第1章简要介绍Rietveld法的发展概况和基本原理。第2章介绍精修软件EXPGUI-GSAS的安装和使用界面。第3章介绍Rietveld法X射线多晶衍射数据的实验测试,并以简单例子演示EXPGUI-GSAS精修过程以及结果的提取和图谱绘图。第4章给出了三个提高练习示例,包括创建仪器参数文件、含非晶混合物的定量分析以及占位修正等。
目录
— END —