书目

数字系统测试和可测试性设计

内容简介

《数字系统测试和可测试性设计》论述了数字系统测试和可测性设计，它通过数字电路设计实例和方法阐明了测试和可测试性的概念。《数字系统测试和可测试性设计》还采用Verilog模型和Verilog测试平台实现并解释故障仿真和测试生成算法。《数字系统测试和可测试性设计》的最大特点是广泛地使用Verilog和VerilogPLI编写测试应用，这把《数字系统测试和可测试性设计》与其他讨论测试和可测试性的书籍区分开来。

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