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X射线荧光光谱的基本参数法
作者
卓尚军
著
出版社
上海科学技术出版社
出版时间
2010年11月 第1版
ISBN
9787547805077
定价
68.00
内容简介
《X射线荧光光谱的基本参数法》是X射线荧光光谱分析领域专门讲述基本参数法的第一本书。书中,作者结合自己的研究成果和实践经验,系统而详细地介绍了X射线荧光光谱分析中的基本参数法的基本原理、方法中用到的各种基本参数、理论荧光强度计算、散射对理论荧光强度的影响、多层膜样品中荧光强度计算的问题、基本参数法的实现和应用实例,书末还列出了重要的基本参数。本书可供从事X射线荧光光谱研究与实际分析的科研和技术人员阅读,也可作为X射线荧光光谱分析或相关专业教师和研究生的参考读物。
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