抗辐射电子学：辐射效应及加固原理
- 作者
- 出版社 国防工业出版社
- 出版时间 1998年7月 第1版
- ISBN 9787118018660
- 定价 18.00
内容简介
本书主要介绍抗辐射电子学内在的较完整的理论与实践相结合的体系，包括：对强辐射环境特性参数分析；电子材料辐射效应与损伤机理的物理学基础；各种有源半导体元器件与集成电路的辐射效应与加固技术；强电磁场对电子系统的损伤效应与加固方法；电子系统的总体加固设计与评价；辐射效应实验的模拟源和测试技术；半导体元器件和集成电路辐射效应的计算分析与预测。
目录
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