产品可靠性、维修性及保障性手册（原书第2版）

MichaelPecht，是香港城市大学电子工程系的客座教授，电子工程硕士，美国威斯康星大学麦迪逊分校机械工程的硕士和博士。现为专业工程师、IEEE会士（IEEEFellow）、ASME会士（ASMEFellow）和IMAPS会士（IMAPSFellow）。2008年，获得可靠性领域的最高奖项——IEEE可靠性协会终生成就奖。曾任IEEETransactionsDnReliabilitJy主编八年，IEEESpec打咨询顾问。现为MicroelectronicsReliability的主编，IEEETransactions0nComponentsandPackagingTechnology副主编。美国马里兰大学学院园分校高级生命周期工程研究中心（CenterforAdvancedLifeCycleEngineering，CALCE）创始人；机械工程系GeorgeDieter首席教授、应用数学系教授。已编写关于电子产品开发、使用和供应链管理等方面的书籍20余本，发表学术论文400余篇。在过去的十年中，他领导的科研小组一直致力于可靠性诊断的研究。他们已经为100多家生产电子产品的跨国企业提供了咨询，为这些企业的电子产品和系统的策略制定、设计、试验、诊断分析、知识产权、风险评估等方面提供了专家意见和技术支持。因对可靠性研究的杰出贡献，获得欧洲微纳米可靠性奖；因对电子封装的研究，获3M研究奖；因对电子产品可靠性分析的贡献，获IMAP（国际微电子和包装协会）WilliamD.Ashman成就纪念奖。