书目

半导体材料表征方法与技术

内容简介

本书以数据分析为基础,探讨了半导体材料及器件的特征参数分析和检测的方法和技术。全书共七章,包括数据的统计分析、半导体物理基础、半导体材料的接触及能带结构测量、半导体缺陷及测量、载流子迁移率的测量、载流子动力学和太阳能电池的基本原理及表征,对相关材料专业学生和科研工作人员具有很好的参考价值和意义。

作者简介

杨周,陕西师范大学材料科学与工程学院副教授,主要从事半导体材料制备与器件组装的研究工作,包括太阳能电池、光探测器、射线探测器等,自2020年起连年入选科睿唯安全球高被引科学家榜单。刘生忠,陕西师范大学材料科学与工程学院教授,中国科学院大连化学物理研究所特聘研究员,国家特聘专家。

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