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互换性与测量技术基础
作者
高丽
主编
于涛
主编
杨俊茹
主编
出版社
北京理工大学出版社有限责任公司
出版时间
2018年
ISBN
9787568252430
定价
55.00
内容简介
本书包括绪论,测量技术基础,孔、轴公差与配合及其尺寸检测,几何公差及其检测,表面粗糙度及其检测,滚动轴承与孔、轴结合的互换性,渐开线圆柱齿轮公差与检测,常用连接件的公差与检测,圆锥公差与检测,尺寸链等共10章。
目录
— END —